CEI - CLC/TS 50217
Guide for in situ measurements - In situ measurement of disturbance emission
inactive, Most Current
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 February 2006 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 78 |
scope:
La presente Specifica Tecnica si propone di indicare linee guida per l'analisi dell'emissione di disturbi in situ allo scopo di identificare le sorgenti e di risolvere eventuali problemi di reclami.
Il campo di frequenze di interesse è dalla corrente continua a 400 GHz.
I criteri di analisi, essenzialmente basati su documenti IEC e CENELEC già disponibili, sono particolarmente utili per gli impianti fissi.
La presente Specifica Tecnica riporta il testo in inglese e italiano della CLC/TS 50217; rispetto al precedente fascicolo n. 8034E di dicembre 2005, essa contiene la traduzione completa della EN sopra indicata.
Document History
CLC/TS 50217
February 1, 2006
Guide for in situ measurements - In situ measurement of disturbance emission
La presente Specifica Tecnica si propone di indicare linee guida per l'analisi dell'emissione di disturbi in situ allo scopo di identificare le sorgenti e di risolvere eventuali problemi di...
December 1, 2005
Guida per le misure in situ - Misura in situ dell'emissione di disturbi
La presente Specifica Tecnica si propone di indicare linee guida per l'analisi dell'emissione di disturbi in situ allo scopo di identificare le sorgenti e di risolvere eventuali problemi di...