CEI - CLC/TS 50217
Guida per le misure in situ - Misura in situ dell'emissione di disturbi
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 December 2005 |
| Status: | inactive |
scope:
La presente Specifica Tecnica si propone di indicare linee guida per l'analisi dell'emissione di disturbi in situ allo scopo di identificare le sorgenti e di risolvere eventuali problemi di reclami.
Il campo di frequenze di interesse è dalla corrente continua a 400 GHz.
I criteri di analisi, essenzialmente basati su documenti IEC e CENELEC già disponibili, sono particolarmente utili per gli impianti fissi.
Questa Specifica Tecnica viene pubblicata dal CEI in una prima fase nella sola lingua inglese, per consentirne l'immediato utilizzo da parte degli utenti interessati, nel rispetto della data di pubblicazione fissata dagli Enti Normatori internazionali.
Successivamente il CEI pubblicherà, in un nuovo fascicolo
ma come medesima edizione
la stessa Specifica Tecnica in versione italiano-inglese; tale nuova versione avrà la stessa validità della presente.
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