CEI EN 60749-23
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
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| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 January 2012 |
| Status: | active |
| Page Count: | 8 |
scope:
La presente Variante modifica la Norma CEI EN 60749-23:2006-01 relativa ai metodi di prova inerenti la valutazione della durata della vita utile in funzionamento ad alte temperature per i dispositivi a semiconduttore.
Si tratta di due modifiche editoriali che rendono più chiaro il Cap. 7 Misure e che corregono un riferimento errato nel Cap.9 Sommario al punto f.
Questa Variante viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.
Document History
CEI EN 60749-23
January 1, 2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
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January 1, 2006
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