CEI EN 60749-23
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 January 2006 |
| Status: | active |
| Page Count: | 16 |
scope:
La presente Norma fa parte della serie 60749 e descrive un metodo di prova per determinare gli effetti delle condizioni di alimentazione e di temperatura sui dispositivi allo stato solido per lunghi periodi di tempo.
Il metodo simula le condizioni di funzionamento del dispositivo in modo accelerato ed è usato principalmente per la qualificazione dei dispositivi e la valutazione dell'affidabilità.
Si può usare uno schema di funzionamento ad alte temperature per breve durata, noto come "burn-in" per individuare i malfunzionamenti che causano la "mortalità" precoce dei dispositivi.
La descrizione dettagliata dell'uso di burn-in non è nello scopo di questa Norma.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
Document History