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La presente Norma descrive le procedure di correzione in funzione della temperatura e dell'irraggiamento delle caratteristiche I-V misurate su dispositivi fotovoltaici in silicio cristallino. Include le procedure per la determinazione dei coefficienti di temperatura, la resistenza serie interna e il fattore di correzione della curva. Tali procedure sono valide per un campo di irraggiamento di ± 30% del livello a cui è stata eseguita la misura.
La presente Norma costituisce la ristampa senza modifiche, secondo il nuovo progetto di veste editoriale, della Norma pari numero ed edizione (Fascicolo 2647 E).
La presente Norma é annullata e sostituita dalla Nuova edizione, CEI EN 60891:2010-12 (CEI 82-5), tuttavia rimane applicabile fino al 1-03-2013.