CEI EN 61829
Crystalline silicon photovoltaic (PV) array - On-site measurement of I-V characteristics
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 March 1999 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 16 |
scope:
La presente Norma descrive le procedure per la misura sul campo delle caratteristiche di schiere di moduli fotovoltaici (FV) in silicio cristallino e per l'estrapolazione di questi dati alle condizioni di prova normalizzate (STC) o ad altri valori scelti di temperatura e irraggiamento.
Le misure delle caratteristiche I-V delle schiere di moduli FV nelle effettive condizioni sul campo e la loro estrapolazione alle condizioni di prova di accettazione (ATC) possono indicare:
- i dati relativi alla potenza nominale;
- la verifica delle prestazioni della potenza installata delle schiere di moduli rispetto alle specifiche di progetto;
- la rilevazione di eventuali differenze tra le caratteristiche del modulo sul campo e le misure effettuate in laboratorio o in fabbrica;
- la rilevazione di un eventuale deterioramento nelle prestazioni dei moduli e delle schiere di moduli rispetto ai dati iniziali sul campo.
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