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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova per determinare gli effetti di una accelerazione costante su dispositivi a semiconduttore del tipo a cavità.
Si tratta di una prova accelerata destinata a individuare i tipi di disfunzioni strutturali e meccanici , che possono essere non rilevati nella prova di urto e vibrazione.
Può inoltre essere usato come prova di alta sollecitazione (distruttiva) per determinare i limiti meccanici dell'involucro, della metallizzazione, del sistema di terminazioni, della saldatura dei chip al substrato e di altri elementi del dispositivo microelettronico.
Se vengono stabiliti appropriati limiti di sollecitazione questo metodo può anche essere usato come un sistema non distruttivo completamente in linea per rilevare ed eliminare i dispositivi con valori al di sotto delle normali sollecitazioni meccaniche di qualcuno degli elementi strutturali.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.