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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova relativo agli urti meccanici.
La prova ha lo scopo di determinare l'idoneità delle parti componenti usate nei dispositivi elettronici, che possono essere soggette ad urti abbastanza severi conseguenti all'applicazione improvvisa di forze o a repentini cambi di movimento causati da manipolazioni, trasporto o gestione operativa effettuati in modo brusco.
Urti di questo genere possono arrecare disturbi alle caratteristiche operative, specialmente in presenza di sequenze ripetitive di urti.
Si tratta di una prova distruttiva e viene di norma applicata alle confezioni del tipo a cavità.
In generale la prova di resistenza agli urti meccanici è conforme alla IEC 60068-2-27, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.