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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749.
Essa descrive un metodo di prova per determinare gli effetti sugli elementi strutturali interni di dispositivi a semiconduttore, di vibrazioni a frequenza variabile, nell'ambito di uno specificato intervallo di frequenze.
Si tratta di una prova di tipo distruttivo.
Questo tipo di prova viene adottato normalmente per confezioni del tipo a cavità.
In generale la prova a vibrazione variabile è conforme alla IEC 60068-2-6, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.