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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e riguarda la prova di bloccaggio (l-test) e la prova di bloccaggio (interdizione) per sovratensione su circuiti integrati.
La prova deve considerarsi di tipo distruttivo.
La norma descrive un metodo di prova per determinare le caratteristiche del bloccaggio (interdizione) di un circuito integrato e per definire i criteri dei guasti derivanti dal bloccaggio.
Le caratteristiche del bloccaggio vengono usate per determinare l'affidabilità di un prodotto e per minimizzare i guasti per NTF (No Trouble Found) e per EOS (Electrical Overstress) dovuti al bloccaggio.
Questa prova è tipicamente applicabile ai dispositivi CMOS; l'applicabilità ad altre tecnologie deve essere stabilita.
La presente Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua originale inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.