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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova mediante irradiazione ai neutroni.
Questa prova viene effettuata per determinare la tendenza al degrado dei dispositivi a semiconduttore in un ambiente neutronico. Le prove descritte si applicano a circuiti integrati e a singoli dispositivi a semiconduttore; inoltre il tipo di prova è indirizzato ad applicazioni militari e spaziali.
La prova è di tipo distruttivo.
La prova si prefigge di :
a) rivelare e misurare il deterioramento di parametri critici di dispositivi a semiconduttore in funzione del flusso neutronico
b) determinare se i parametri di uno specifico dispositivo a semiconduttore sono nell'ambito di limiti specificati, dopo l'esposizione ad un determinato livello di flusso neutronico.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.