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CEI EN 60749-39

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solublity in organic materials used for semiconductor components

active, Most Current
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Organization: CEI
Publication Date: 1 May 2007
Status: active
Page Count: 16
scope:

La presente Norma fa parte della serie IEC/CLC 60749 e si occupa della misura della diffusività dell'umidità e della solubilità dell'acqua nei materiali organici usati nel confezionamento dei dispositivi a semiconduttore.
Queste due proprietà dei materiali sono parametri importanti per determinare le prestazioni di affidabilità dei semiconduttori confezionati con materiale plastico in seguito all'esposizione all'umidità e soggetti alle alte temperature della saldatura a riflusso.
La norma descrive in dettaglio le varie fasi della procedura per la misura dell'assorbimento dell'umidità, della solubilità e della diffusività e del deassorbimento.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.

Document History

October 1, 2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
This part of IEC 60749 details the procedures for the measurement of the characteristic properties of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used in the packaging of...
CEI EN 60749-39
May 1, 2007
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solublity in organic materials used for semiconductor components
La presente Norma fa parte della serie IEC/CLC 60749 e si occupa della misura della diffusività dell’umidità e della solubilità dell’acqua nei materiali organici usati nel confezionamento dei...
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