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La presente Norma fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova che determina, per i dispositivi a semiconduttore, la resistenza alla corrosione provocata dall'atmosfera salina.
Si tratta di una prova accelerata che simula gli effetti gli effetti dell'atmosfera marina su tutte le superfici esposte dei dispositivi a semiconduttore.
Il metodo è applicabile esclusivamente ai dispositivi previsti specificatamente per ambienti marini.
Questo genere di prova viene considerato di tipo distruttivo.
In generale la prova in atmosfera salina è conforme alla IEC 60068-2-11, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.