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La presente Norma fa parte della serie EN 62132 e descrive un metodo per misurare l'immunità elettromagnetica dei circuiti integrati (IC) in presenza di disturbi condotti, a Radio Frequenza, originati ad esempio da perturbazioni RF irradiate.
Il metodo descritto garantisce un alto grado di ripetibilità e di correlazione delle misure di immunità.
La presente Norma stabilisce una base comune per la misurazione relativa ad apparecchi a semiconduttore usati in sistemi funzionanti in ambienti soggetti alla radiazione di onde elettromagnetiche non desiderate.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.