DIN EN 60749-43
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan (IEC 47/2169/CD:2013)
inactive
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 October 2013 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 63 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
Document History
May 1, 2018
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 43: Leitfaden Plaene zur Zuverlaessigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen (IEC 60749-43:2017); Deutsche Fassung EN 60749-43:2017
Dieser Teil von IEC 60749 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiter-IC-Produkten. Das vorliegende Dokument ist nicht für Militär- und...
DIN EN 60749-43
October 1, 2013
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan (IEC 47/2169/CD:2013)
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