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DIN EN 61753-382-2

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Performance standard - Part 382-2: Non-connectorised single-mode bidirectional G-PON-NGA WWDM devices for category C - Controlled environment (IEC 86B/3717/CD:2013)

inactive
Organization: DIN
Publication Date: 1 April 2014
Status: inactive
Page Count: 31
ICS Code (Fibre optic interconnecting devices): 33.180.20
scope:

Dieser Teil der IEC 61753 enthält die Mindestanforderungen für die Anfangsprüfung und Messung sowie die Prüfschärfen, die ein Wellenlängendivisionsmultiplex-Bauteil (WWDM) mit Lichtwellenleiter-Pigtails (en: fibre optic pigtailed wide wavelength division multiplexing (WWDM) device) für die Zusammenführung und Trennung von Gigabit-Up/Down-Streamsignalen Passiver Optischer Netzwerke (G-PON) und Wellenlängenbereichen der Netzwerke der nächsten Generation (en: Next Generation Access - NGA) einhalten muss, damit es als die IEC-Norm, Kategorie C (kontrollierte Umgebung), wie in IEC 61753-1, Anhang A festgelegt, erfüllend eingestuft werden kann.

Anhang B dieser Norm enthält Angaben über das Prinzip und die Funktion des WWDM.

Document History

October 1, 2016
Fibre optic interconnecting devices and passive components - Performance standard - Part 382-2: Non-connectorized single-mode bidirectional G-PON-NGA WWDM devices for category C - Controlled environment (IEC 61753-382-2:2015); German version EN 61753-382-2:2016
Dieser Teil der IEC 61753 enthält die Mindestanforderungen für die Anfangsleistung, Prüfung und Messung sowie die Prüfschärfen, die ein Wellenlängendivisionsmultiplex-Bauteil (WWDM) mit...
DIN EN 61753-382-2
April 1, 2014
Fibre optic interconnecting devices and passive components - Performance standard - Part 382-2: Non-connectorised single-mode bidirectional G-PON-NGA WWDM devices for category C - Controlled environment (IEC 86B/3717/CD:2013)
Dieser Teil der IEC 61753 enthält die Mindestanforderungen für die Anfangsprüfung und Messung sowie die Prüfschärfen, die ein Wellenlängendivisionsmultiplex-Bauteil (WWDM) mit...

References

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