DIN SPEC 52407
Nanotechnologien - Methoden zur Praeparation und Auswertung fuer Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 March 2015 |
| Status: | active |
| Page Count: | 23 |
| ICS Code (Nanotechnologies): | 07.120 |
scope:
Diese DIN SPEC beinhaltet eine Methodensammlung zur sicheren und
reproduzierbaren Präparation von eng verteilten
Referenz-Nanopartike
Die beschriebenen Verfahren sind anwendbar auf die Präparation und Untersuchung einzelner oder an Ketten aneinander liegender Partikel sowie Monolagenschichten im Größenbereich unter 1 μm.
Document History
DIN SPEC 52407
March 1, 2015
Nanotechnologien - Methoden zur Praeparation und Auswertung fuer Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
Diese DIN SPEC beinhaltet eine Methodensammlung zur sicheren und reproduzierbaren Präparation von eng verteilten Referenz-Nanopartikeln auf ebenen Flächen sowie deren Größenmessung und Auswertung....