DIN EN 60749-43
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 43: Leitfaden Plaene zur Zuverlaessigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen (IEC 60749-43:2017); Deutsche Fassung EN 60749-43:2017
Organization: | DIN |
Publication Date: | 1 May 2018 |
Status: | active |
Page Count: | 40 |
ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Dieser Teil von IEC 60749 enthält Leitlinien für Qualifikationspläne zur Zuverlässigkeit von integrierten Halbleiter-IC-Produk
ANMERKUNG 1 Der Hersteller kann flexible Stichprobenumfänge verwenden, um Kosten zu senken und eine angemessene Zuverlässigkeit zu erhalten durch die vorliegende Leitlinienanpassung,
ANMERKUNG 2 Die im vorliegenden Dokument angewandte Weibull-Verteilung ist eine von mehreren Methoden zur Berechnung des geeigneten Stichprobenumfangs und der geeigneten Prüfbedingungen eines bestimmten Zuverlässigkeitsproj