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Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC; en: integrated circuit) gegenüber genormten leitungsgeführten transienten elektrischen Störungen fest. Die Störungen, die nicht notwendigerweise auf den Betrieb des zu prüfenden Bauelementes abgestimmt sind, werden an die Anschlüsse des IC über Koppelnetzwerke angelegt. Mit diesem Verfahren wird das Verständnis und die Einstufung von Wechselwirkungen zwischen leitungsgeführten transienten Störungen und der Beeinträchtigung der Funktion ermöglicht, die in ICs durch transiente Vorgänge innerhalb oder außerhalb des festgelegten Betriebsspannungsbereiches eingeführt werden.