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CEI EN 60749-30

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

active, Most Current
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Organization: CEI
Publication Date: 1 July 2005
Status: active
Page Count: 22
scope:

La presente Norma fa parte della serie 60749 : in essa viene descritta una procedura standard per determinare il precondizionamento dei dispositivi non ermetici a montaggio superficiale nella fase precedente alla prova di affidabilità.
Il metodo di prova definisce la sequenza delle fasi del precondizionamento per dispositivi allo stato solido a montaggio superficiale, prodotti tipici della saldatura multipla a riflusso.
Questi dispositivi dovrebbero essere sottoposti alla sequenza delle fasi di precondizionamento come descritto nella presente Norma, prima di passare alla prova di affidabilità effettuata all'interno (Qualificazione e verifica dell'affidabilità) allo scopo di valutare l'affidabilità di lungo periodo influenzata dalle sollecitazioni del processo di saldatura.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.

Document History

June 1, 2021
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
This part of IEC 60749 establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing. The test method defines the...
June 1, 2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Foreword The text of document 47/2019/CDV, future amendment 1 to IEC 60749-30:2005, prepared by IEC TC 47, Semiconductor devices, was submitted to the IEC-CENELEC parallel vote and was approved by...
CEI EN 60749-30
July 1, 2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
La presente Norma fa parte della serie 60749 : in essa viene descritta una procedura standard per determinare il precondizionamento dei dispositivi non ermetici a montaggio superficiale nella fase...
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