DIN IEC 62047-11
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for linear thermal expansion coefficients of MEMS materials (IEC 47F/49/CD:2010)
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 June 2010 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 24 |
| ICS Code (Electromechanical components in general): | 31.220.01 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Dieses Dokument legt das Verfahren fest zum Messen des linearen
thermischen Ausdehnungskoeffizie
In diesem Prüfverfahren werden die Angaben aufgelistet, welche in den Prüfaufzeichnungen enthalten sein sollten. Ziel ist es, sicherzustellen, dass alle brauchbaren und lesbaren Informationen an die interessierten Parteien weitergegeben werden. Die Kennwerte, die in SI-Einheiten festgelegt sind, sind als Standardwerte zu betrachten.
Document History