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DIN IEC 62047-11

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for linear thermal expansion coefficients of MEMS materials (IEC 47F/49/CD:2010)

inactive, Most Current
Organization: DIN
Publication Date: 1 June 2010
Status: inactive
Page Count: 24
ICS Code (Electromechanical components in general): 31.220.01
ICS Code (Semiconductor devices in general): 31.080.01
scope:

Dieses Dokument legt das Verfahren fest zum Messen des linearen thermischen Ausdehnungskoeffizienten (CTE; en: coefficient thermal expansion) von dünnen, freistehenden festen Werkstoffen der Mikrosystemtechnik (Metalle, Keramiken, Polymere usw.) mit Längen und Breiten kleiner als 1 mm und Dicken kleiner als 10 μm, genau so wie diese Werkstoffe als Hauptbestandteile in MEMS-Bauteilen (en: micro electromechanical system), Mikrosystemen und anderen verwendet werden. Die uniaxiale thermische Ausdehnung ist während des Erwärmens in einer Wärmekammer zu messen. Die einzelnen als auch durchschnittlichen CTE-Werte können nach diesem Verfahren bis zu Temperaturen von 150 °C gemessen werden. In diesem Dokument sind auch die wesentlichen Anforderungen zur Prüfeinrichtung festgelegt.

In diesem Prüfverfahren werden die Angaben aufgelistet, welche in den Prüfaufzeichnungen enthalten sein sollten. Ziel ist es, sicherzustellen, dass alle brauchbaren und lesbaren Informationen an die interessierten Parteien weitergegeben werden. Die Kennwerte, die in SI-Einheiten festgelegt sind, sind als Standardwerte zu betrachten.

Document History

DIN IEC 62047-11
June 1, 2010
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for linear thermal expansion coefficients of MEMS materials (IEC 47F/49/CD:2010)
Dieses Dokument legt das Verfahren fest zum Messen des linearen thermischen Ausdehnungskoeffizienten (CTE; en: coefficient thermal expansion) von dünnen, freistehenden festen Werkstoffen der...

References

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