CEI - EN 60749/A1
Dispositivi a semiconduttore - Metodi di prova climatici e meccanici
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 November 2001 |
| Status: | inactive |
scope:
La presente Variante Europea viene pubblicata nella sola lingua inglese a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata ai settori specialistici.
La presente Variante recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma è sostituita dalle Nuove Norme CEI EN 60749-1:2005-04; CEI EN 60749-2:2004-03; CEI EN 60749-3:2004-03; CEI EN 60749-4:2004-03; CEI EN 60749-5:2005-10; CEI EN 60749-6:2004-03; CEI EN 60749-7:2004-03; CEI EN 60749-8:2004-11; CEI EN 60749-9:2004-03; CEI EN 60749-10:2004-03; CEI EN 60749-11:2004-03; CEI EN 60749-12:2004-03; CEI EN 60749-13:2004-03; CEI EN 60749-14:2004-11; CEI EN 60749-15:2005-11; CEI EN 60749-17:2004-11; CEI EN 60749-18:2004-03; CEI EN 60749-19:2004-11; CEI EN 60749-20:2004-03; CEI EN 60749-21:2005-07; CEI EN 60749-22:2004-03; EN 60749-24:2004-04 (Recepimento su Ceinforma 03/2006); CEI EN 60749-25:2004-11; CEI EN 60749-29:2004-11; CEI EN 60749-31:2004-11; CEI EN 60749-32:2004-11; CEI EN 60749-36:2004-11; tuttavia rimane in parte applicabile con le tempistiche evidenziate nel testo della nuove Norme, a cui si rimanda.
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