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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si applica ai dispositivi a semiconduttore ( dispositivi singoli e circuiti integrati).
Scopo della norma è quello di descrivere un metodo di prova atto a verificare se un dispositivo possa prendere fuoco a causa di riscaldamento esterno.
Nella prova viene utilizzato un bruciatore ad ago per simulare l'effetto di piccole fiamme che possono originarsi da condizioni di guasto nelle apparecchiature che contengono il dispositivo.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.