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CEI EN 60749-32

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

active, Most Current
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Organization: CEI
Publication Date: 1 November 2011
Status: active
Page Count: 10
scope:

Questa Variante aggiorna la Norma CEI EN 60749-32:2004-11 relativa alle prove di infiammabilità dei dispositivi con incapsulamento plastico (innesco esterno) .
La modifica riguarda:
Art. 2 Riferimenti normativi
Art. 3 Procedure di prova
in cui viene sostituito il riferimento ad una Norma del CT 89 con un'altra dello stesso Comitato.
Questa Variante viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Variante recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.

Document History

CEI EN 60749-32
November 1, 2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Questa Variante aggiorna la Norma CEI EN 60749-32:2004-11 relativa alle prove di infiammabilità dei dispositivi con incapsulamento plastico (innesco esterno) . La modifica riguarda: Art. 2...
November 1, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si applica ai dispositivi a semiconduttore ( dispositivi singoli e circuiti integrati). Scopo della norma è quello di descrivere un...

References

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