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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive tre metodi per provare e misurare il tasso del vapore acqueo e di altri gas presenti internamente ad un dispositivo a semiconduttori metallico o ceramico ermeticamente sigillato.
Questi metodi si applicano a dispositivi sigillati a semiconduttori sigillati in tal modo, ma in effetti vengono usati soltanto per applicazioni che richiedono alta affidabilità , come quelle militari o aereospaziali.
I metodi 1 e 2 possono essere distruttivi, mentre il metodo 3 non lo è.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.