CEI EN 60749-4
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 March 2004 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 16 |
scope:
La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prove fortemente accelerate di temperatura ed umidità (HAST).
Lo scopo della prova è quello di valutare l'affidabilità e resistenza di dispositivi a semiconduttore in confezioni non ermetiche in ambienti umidi.
La prova HAST prevede condizioni molto severe di temperatura, umidità e polarizzazione, che accelera la penetrazione dell'umidità attraverso le protezioni esterne.
Questa prova è di tipo distruttivo.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.
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