DIN EN 62047-14
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (IEC 62047-14:2012); German version EN 62047-14:2012
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 October 2012 |
| Status: | active |
| Page Count: | 20 |
| ICS Code (Electromechanical components in general): | 31.220.01 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
In diesem Teil der IEC 62047 sind Begriffe und Verfahren zum
Ermitteln der Grenzformänderung (Formänderungsvermög
Wenn metallische Dünnschichtwerkstoff
Document History