DIN EN 62047-17
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015); German version EN 62047-17:2015
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 December 2015 |
| Status: | active |
| Page Count: | 28 |
| ICS Code (Electromechanical components in general): | 31.220.01 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
In diesem Teil der IEC 62047 ist das Verfahren für die
Durchführung von Wölbungsprüfungen (Bulge-/Tiefen- Prüfungen) an
einer freistehenden Schicht, die innerhalb eines Fensters gewölbt
wird, festgelegt. Die Mikroprobe wird aus
Mikro-/Nano-Schichtw
Die Prüfbeanspruchungen werden bei Raumtemperatur unter Verwendung einer gleichförmig verteilten Druckbeanspruchung auf die zu prüfende Schicht-Probe innerhalb des Wölbungsfensters ausgeübt.
Mithilfe dieses Verfahrens können das Elastizitätsmodul und die Eigenspannung der Schicht-Werkstoffe bestimmt werden.
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